槟城“SEMICON东南亚”　爱德万测试4/25

参观半导体测试设备领导供应商爱德万测试位于东南亚国际半导体展的摊位，抢先一步了解其最新半导体测试解决方案。东南亚国际半导体展将于2017年4月25-27日假马来西亚槟城体育馆盛大展开，爱德万测试为本次大会的银级赞助商。

爱德万测试本次参展以“量测互连网世界及其事物”为主题，将于“B139”摊位展示EVA100量测系统，该系统无论是针对设计还是产品的量测作业都采用相同的测试序列，客户因此得以在整个作业过程中建立标准化的量测环境，大幅缩短产品上市的时程。此外，EVA100系统采用诉诸于直觉的图形化辅助使用者操作介面，故不需要复杂的程式语言。爱德万测试将在摊位内外举行多场会议，和与会贵宾讨论EVA100与该公司多元的ATE解决方案产品组合。

4月26日下午1:10，爱德万测试资深研发暨应用工程师Shang Yang博士，将于“IC失效分析论坛”发表“运用超高解析度TDR系统之高密度LSI失效分析技术”论文。

4月27日中午12:00，爱德万测试职员应用工程师Tuttipattu Ramaswamy Sujanandan先生，将于“产品与系统测试论坛”发表“物联网──创造经济合算的多测试埠RF解决方案”论文。